低压保护开关电寿命预测方法及装置性能优化研究

ISSN:2705-0998(P)

EISSN:2705-0513(O)

语言:中文

作者
方新来,郑天豪
文章摘要
低压保护开关作为电力系统中保障用电安全的关键设备,其电寿命直接关系到电力系统的稳定运行与用电可靠性。随着电力行业的不断发展,对低压保护开关的性能要求日益提高,准确预测其电寿命并优化装置性能成为当前研究的重要方向。本文围绕低压保护开关电寿命预测方法及装置性能优化展开研究,首先分析了影响低压保护开关电寿命的主要因素,包括电弧侵蚀、电磨损、热老化等;接着探讨了常见的电寿命预测方法,如基于失效机理的预测方法、基于数据驱动的预测方法等,对比了不同方法的适用场景与优缺点;最后从材料选择、结构设计、散热优化等方面研究了装置性能优化策略,旨在为提升低压保护开关的使用寿命与运行稳定性提供理论参考。
文章关键词
低压保护开关;电寿命预测;失效机理;数据驱动;性能优化
参考文献
[1] 陈富,周梓发,涂虬.基于 STM32 的低压馈电开关保护器的设计[J].电子设计工程,2022,30(4):156-160. [2] 何磊,徐小鸽,朱超凡,等.低压成套开关设备绝缘配合原理及检测要点分析[J].技术与市场.2021,(7). [3] 徐森,宋巍.低压成套开关设备保护接地过门线探讨[J].电子元器件与信息技术,2022,6(6):168-171.
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